產品描述:立式接觸式干涉儀 型號:SS18-JDS-1 立式接觸式干涉儀JDS-1 技術參數： 1、被測件長度：≤150 mm 工作臺的行程 5毫米 分劃板的刻度范圍 士50格 刻度值的調整范從 0. 00005至0. 0002毫米
價格：電議
產品描述:本款精密干涉儀可開展經典的邁克耳遜干涉，法布里-珀羅干涉和泰曼-格林干涉實驗。儀器設計精巧，一體化結構能大大減少實驗調整時間，提高實驗效率，同時所有結構件固定在厚重小平臺上，能有...
價格：電議
產品描述:納米深度3D形狀顯微檢測儀結合相移垂直掃描的前沿技術與顯微光干涉，不需要復雜光路調整程序，即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D納米深度的表面檢測分析不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析，更可提供...
價格：￥558000.00
產品描述:激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至標準，是迄今的高、高靈敏度的測量儀器，在高端制造領域應用廣泛。
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產品描述:通過緊湊型設計和多功能性的完美結合，Smart2是市面上領先的可集成的區域共聚焦傳感器Smart2的設計非常易于集成，包括計算核心在內的所有電子設備都在測量頭內部。這樣的設計使得安裝Sensofar系統從未如此簡單：...
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產品描述:Interferometer System for Multiple Surface Testing Large-Aperture Downward-Looking 3D Optical Surface Profiler with Sub-Nanometer Precision 菲索型激光干涉儀，具有QPSI測量模式，能夠在振...
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產品描述:雷尼紹設計、制造和供應激光系統已有二十多年的歷史。XL-80是這些設計和制造豐富經驗的結晶，具有真正的系統性能和操作優點。 便攜性和易用性 XL-80激光和XC-80補償器體積小巧，一套...
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產品描述:馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化，可用...
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產品描述:雙模式三維表面形貌儀能夠在同一測試平臺上運行多種測試，產品的組合可根據不同的技術應用要求而改變。針對樣品的同一區域可進行不同模式的實驗檢測，模式切換可實現全自動化。多項技術的整合能夠使不同技術在同...
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產品描述:為中國首款標準鏡有效口徑達到200mm的平面干涉儀，改善提高了大口徑光學系統和光學元件測試，彌補了國內使用有效口徑150mm的干涉儀測試大尺寸光學系統和光學元件，不能全口徑測試的不足。
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產品描述:差分干涉是橫向錯位干涉的一種，通過采用渥拉斯頓棱鏡結合紋影鏡差分干涉儀。結合大型紋影鏡的差分干涉儀主要用于較大氣體流場的測量，同時也可以實現連續高速采集。該系統結構簡單、抗振效...
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產品描述:ZLM900微測量檢測激光干涉儀由德國JENAer耶拿爾公司生產，為三軸外差式雙頻激光干涉儀，用于位移、俯仰角和偏擺角的三角關系測量，主要用于運動平臺等微位移的測量和檢測，角度變化量的監測等。
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產品描述:SANA單芯光纖端面干涉儀是維度科技研發的非接觸式單芯光纖端面干涉儀；該光纖端面干涉儀可用于測量單芯光纖連接器的各項端面幾何參數，并具有自動居中等功能。精心設計的對焦把手以及光學平...
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產品描述:產品介紹 白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術，是專為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數而設計的微納米測量系統,，為韓國SAMSUNG指定供應商，LPL友好俱樂部成員，清華大學，...
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產品描述:大連乾圓經貿有限公司是數控機床、工業潤滑油等相關產品生產加工的有限責任公司(自然人投資或控股),公司總部設在大連經濟技術開發區哈爾濱路34號,大連乾圓經貿有限公司擁有完整、科學的質量管理體系。大連乾...
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產品描述:太空型MCV-5000系列激光測量系統美國光動公司的MCV-5000系列是專為大型五軸加工中心完整的體積測量及補償而設計的。可以測量靜態定位誤差、角誤差、旋轉軸誤差，以及動態性能。體積定位誤差包括了3個直線...
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產品描述:品名：干涉計-球面測定裝置用途：加工用資材 主要經營產品*各種/國產鍍膜材料*各類電鍍蒸發源耗材*各種進品/國產研磨材料*代理各種/國產研磨設備*各類精密鍍膜工具
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