Phenom(飛納) G2 Pure 為您提供高信噪比、表面細節豐富的優質圖像：

5kV低加速電壓下，電子反應區位于樣品表面，配合高亮CeB6燈絲，既了分辨率，又得到樣品表面的信息

CeB6燈絲在樣品表面單位面積內激發的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測

成份模式
4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加

形貌模式
4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消

成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息

Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。

利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發示例：

操作簡便，導航

?  自動/手動聚焦

光學導航，帶觀測樣品盡在視野之中，下準確切換樣品，點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕

低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區域，點擊感興趣的區域，自動移動到樣品

環境適應性高，震

Phenom（飛納）可以放置在幾乎的室內環境當中，無需凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。

互聯網遠程檢測

Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網絡，工程師可為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供的保護，讓您的Phenom處于工作狀態。

適用于不同領域的樣品杯選件